TIMA-X 是一款自动化矿物分析系统，可用于如岩石、矿石、精矿、尾矿、浸出渣或冶炼产品等的快速定量分析。

TIMA-X 结合 BSE 和 EDS 分析来鉴别矿物，获得矿物图像。通过分析图像可确定矿物质浓度、元素分布及矿物质特性，如晶粒尺寸、结合形式、解离和包裹程度。TIMA-X 也可用于鉴别明亮相中是否含有铂族金属、金、银、稀土和其它矿物质。

TIMA-X 最多可安装四个 EDAX 硅漂移能谱探头，配合新型软件，显著提高了分析性能和可靠性。新型能谱探头提高了轻元素探测灵敏度，并在高计数率下具有稳定的能量分辨率。能谱探头可由 TIMA 操作系统和 EDAX 的能谱定量分析软件控制，用户既可体验 TIMA-X 超高的工作效率，也可进行定量分析。TIMA-X 软件有很多独特的功能，包括新一代的矿物鉴定工具，以及采用的像素分析算法实现较低元素含量的检测。

TIMA-X 可以装配 AutoLoader™自动进样系统，可实现 24 小时全天候无人值守检测样品，进样数量为 2 到 100 个环氧树脂块。 AutoLoader™ 自动进样系统消除了手动更换样品及手动样品仓抽真空的操作，将矿物检测从批量处理变成了连续的过程，显著提高生产效率。

独特功能

• X 射线采集和电子束扫描系统完全集成于一体
• AutoLoader™ 可实现 7 天 * 24 小时无间断、无值守自动化操作，适用于大量样品分析
• 低计数率下，更低的检测限
• 可直接进行定量能谱分析
• 简化矿物分类流程的工作流和工具
• 交互式测试验证和研究工具

硬件突出特点

• TIMA-X 基于TESCAN MIRA 肖特基场发射扫描电镜或VEGA 钨灯丝扫描电镜平台
• 最多能集成 4 个 EDS 探测器，使系统的高通量性能最大化
• 采用新一代 Peltier 冷却 SDD 探测器
• 使用新型 30 mm2 SDD CMOS真空封装芯片
• Si3N4陶瓷窗口，坚硬、无孔、透射率高
• 配备功能齐全的标准 EDS 定量分析