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SQ3000+ 多功能 AOI, SPI & CMM 自动光学检测系统


 

 

 


自动光学检测 (AOI)


焊锡膏检测 (SPI)


坐标测量机 (CMM)

多功能的优势

SQ3000+ 多功能系统配置了多重反射抑制(MRS®) 传感器技术,为检测和计量提供了高分辨率、高精度和高速度的良好结合。

在线 AOI, SPI, CMM

SQ3000+ 是一款能够在线执行AOI、SPI和CMM的系统。

自动光学检测(AOI)

该系统是专门为高端应用而设计的,包括先进封装、迷你LED、先进的SMT、008004/0201 SPI、插座测量和其他具有挑战性的CMM应用。

焊锡膏检测 (SPI)

SQ3000+ 具有的革命性的多反射抑制(MRS)技术,通过精细识别和拒绝由光亮的零件引起的反射,提供了良好的精度。 有效地抑制多重反射对于精确测量至关重要,使MRS成为用于广泛应用的理想技术解决方案,包括那些具有非常高质量要求的应用。

坐标测量机 (CMM)

SQ3000+ 利用CyberCMM™,这一坐标测量工具的综合软件,对所有关键点提供了高度精的计量级测量。用于编程复杂应用的在线CMM系统,可以执行快速和简单的设置。

多重反射抑制®

新的5微米超高分辨率的MRS传感器装配在Q3000+上,是专门为最严苛要求的先进应用而设计的。

(MRS®) 传感器技术

SQ3000+是由诺信公司的3D传感技术驱动,具有复杂的融合算法,能够在生产速度下实现计量级的精度。其结果是超高质量的3D图像,高速的检查和计量,并提高了产量和良品率。

广泛应用

先进封装:微间距元件检测。BGA 锡球检查、直径测量、一致性。BGA 共面性检查。
LED:背光。5点 &锡膏检查。焊盘间隙检查。翘曲、照明强度、粘合剂挤出测量。碎片脱落染色。
先进的插座计量:插针检查。真实位置、检查点胶的材料的点胶的图案。
焊锡膏:紧密区域、离水桥接、速度和精度、喷射打印锡膏,4 型锡膏。
半导体:高反射性染料、键合、焊球、键合引线和楔焊检查,键合引线的线弧高度和角落填充/底部填充检查。
SMT 电子:微电子应用快速和精确的检查。
航空:具有空腔的金属模块,高反射材料上的基板和关键点检查,键合引线和带的检查。
汽车:音叉、连接器、关键功能的实际位置、对于高精度放置的关键部件的真实位置、较小的模块、关键插针的检查。