Dage XD7800VR或NT是专门用于大尺寸样品的X光无损检测的系统。

主要用于检测：电子元器件、PCBA 电路板内部焊接，短路，气孔，气泡，裂纹，及异物检查。

主要特征：

1. 最小分辨率: 950 纳米 (0 .95 微米 )；
2. 影像接收器左右偏转角度各70 度（共 140 度），旋转 360 度；
3. 最大检测区域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；
4. 最大样品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；
5. 最大样品重量: 10KG ；
6. 系统最大放大倍数: 至 5650 X ；
7. 图像采集: 1.3 M 数字 CCD ；
8. 显示器: 20" (DVI interface) 数字彩色平板 LCD

规格描述：

设备外形尺寸：　长： 1975mm 宽： 2400mm 高： 2060mm
重量：　　　　　3000kg
电源：　　　　　单相 220-230V, 最大 16A , 50 or 60 Hz
符合标准：　　　DEC; European CE Regulations; Safety Directive