红外热像仪服务

 

服务范围:

我公司拥有业界领先的美国FAI公司的光发射显微镜,可以帮助客户精确的捕捉到IC或Wafer上的晶片电路缺陷,快速定位微漏电发生位置。我们可以通过选择多种不同的光源(如可见光、UV光、激光等)作为激励信号,以便捕捉到极微弱的光、热或电信号的差异,以确定失效点。

 

 

 


 

 

 

   

 

       

           

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