Fastline™ P300™ C-SAM 超声波扫描显微镜

 

   

C-SAM 领先的超声显微成像技术
超声显微技术的杰出之处在于它能够在组件和材料中找出可能在生产或可靠性试验中出现的隐藏的缺陷。

不同于X射线和红外成像等其他无损检测技术,超声显微成像技术则是利用超声波对材料弹性特性极其敏感的特性。超声波可能会因为接触物质的改变而被吸收、散射或反射,而且对空气间隙特别敏感。

Sonscan® 提供多种成像模式,操作员可以根据样品内部结构特征选择适当的成像方式以获得有关检验样品的最佳图像。此外,通过利用我们的专有的先进功能,Sonscan可以提供最佳的图像、最高的效率和最好的结果。

这些功能使得Sonscan的C-SAM成像技术成为超声显微成像的首选,用于发现及分析在生产过程或可靠性测试过程中出现的缺陷。比起其他检测方法,使用超声显微成像方法更能有效地识别并分析脱层、空洞及裂缝等缺陷。

Fastline™ P300™
为了提高生产车间内微电子元器件的筛查效率,Sonoscan 专门设计了Fastline™ P300™ 超声波扫描显微镜。作为超声显微成像技术的新平台,Fastline的紧凑设计缩小了占地空间,其独特的输送系统能够在扫描一个JEDEC托盘或样品盘的同时将下一次要扫描的样品放在水中的另一个托盘上等到扫描。

Fastline™ P300™精选特色:

独特输送系统实现产量最大化
精确定位,更快扫描及自动化分析
运用Visual PolyGate™ 技术实现简易快捷的多层深度扫描
多语种操作系统及直观的操作界面
人体工程学设计以提高操作者的舒适度和工作效率
占地面积最小化,最适宜在车间使用



 

         


 

 
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