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F60-t 系列膜厚测试仪 |
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Filmetrics膜厚测试仪产品简介 技术先进，经济有效的Filmetrics 薄膜厚度测量系统，测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到10毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成一个薄膜厚度测量！ 生产环境的自动测绘 Filmetrics F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率，但它增加了许多用于生产环境的功能。 这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，以及升级到全自動化晶圆传输的机型。 不同的 F60-t 仪器根据波长范围加以区分。 较短的波长 (例如， F60-t-UV) 一般用于测量较薄的薄膜，而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
型号规格：
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