F60-c 系列膜厚测试仪

 

   

Filmetrics膜厚测试仪产品简介

世界一流,经济有效的Filmetrics 薄膜厚度测量系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到10毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量!

生产环境的全自动晶圆盒式测绘系统

Filmetrics F60-c 系列不仅能像F50那样测绘薄膜厚度和折射率,还加上了一系列生产环境需要的功能。包括凹槽自动检测,自动基准确定,带安全锁定的全封闭测量平台,预装软件的工业计算机,以及机械手晶圆传输。

不同的F60-c仪器主要由不同的厚度和波长范围来区分。较短波长 (如 F60-c-UV) 测量较薄的薄膜。而较长的波长,则测量较厚,较粗糙,和不透明的薄膜。

 

型号规格:

 

 

 
友情链接:锐峰先科 百度 谷歌 阿里巴巴 慧聪 SEMI中国
 
 
 
 

关于我们|网站地图|产品展台|联系我们

版权所有© 北京锐峰先科技术有限公司 京ICP 06010381

中文|English