F50薄膜测厚仪

 

   


Filmetrics薄膜测厚仪产品简介

世界一流,经济有效的Filmetrics 薄膜测厚仪系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到10毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量!

F50自动化薄膜测厚仪主要用于测试各种透明半透明的膜厚。

产品简介:
1 F50 配备全自动R-θ和 X-Y工作台,有 200mm和300mm两种型号可供选择,客户也可提供所需尺寸。测量速率高达2点/秒,通过快速扫描功能,可取得整片样品的厚度分布情况以及光学参数(n 、k),有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm) ;
2 测量的薄膜厚度范围从10nm到450um,最高精度为 0.1nm 。

主要特点:

1 操作简单、使用方便;
2 测量快速、准确;
3 体积小、重量轻;
4 价格便宜。

应用领域:

1 半导体行业: 光阻、氧化物、氮化物;
2 LCD 行业: 液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
3 光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片;

型号规格:

 

            


 

 
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