F30 透明/半透明膜膜厚测试仪

 

Filmetrics膜厚测试仪产品简介

世界一流,经济有效的Filmetrics 薄膜厚度测量系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到10毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量!


F30 在线监测膜厚测试仪主要用于监测控制生产过程中移动的各种透明半透明薄膜厚度。高达100 Hz的采样率可以在多个测量位置得到。

产品简介:

*是监测薄膜沉积的最有效工具,可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口,实时监控长晶速度,实时测量膜厚、 n 、 k 值以及半导体和绝缘体涂层的均匀性。可加装三个探头,同时测量三个样品,有三种不同波长选择 ( 波长范围从可见光 400nm 至近红外1700nm);
*测量的薄膜厚度范围从 15nm 到 250um;
*测量精度优于1% 。

主要特点:

*测量精度高,优于 1% ;
*测量速度快,几秒钟内可完成测量;
*整套设备可放置在沉积室外;
*操作简单,使用方便;
*价格便宜

应用领域:

*分子束外延MBE;
*金属有机物化学气相沉积MOCVD;
*材料研究;
*光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片;

型号规格:



 

 
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