F20-XT 经济型高级薄膜厚度测试仪

 

 

 

   

Filmetrics薄膜厚度测试仪产品简介

世界一流,经济有效的Filmetrics薄膜厚度测量系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到10毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量!


F20-XT 经济型高级膜厚测试仪主要用于测试各种透明半透明的膜厚。

产品简介:

1 是在F20-NIR的基础上专为测试厚膜而设计的,波长范围从1200nm到1450nm,在NIR波长分辨率为 0.5nm;
2 薄膜厚度的测量范围是:0.2~ 450um(低光学参数薄膜),0.1~160um(Si及其它半导体),精度都好于0.4%。

应用领域 :

1 微机电系统MEMS;
2 绝缘体上硅SOI;
3 倒装芯片Flip Chips;
4 厚聚合物。

 

型号规格:

 

            


 

 
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